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          基礎信息Product information

          產品名稱:涂層測厚儀 德國EPK

          產品型號:MINITEST 720

          產品簡介:

          MINITEST 720 涂層測厚儀 德國EPK
          創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的精確性

          -測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內置或外接探頭使用

          -FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

          SIDSP技術-技術,智能數字化的涂層測厚探頭

          產品特性Product characteristics

          德國EPK  MINITEST 720  涂層測厚儀 膜厚計

          創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的精確性

          -測量范圍達15mm,可更換F、NFN探頭,供內置或外接探頭使用

          -FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

           

          SIDSP技術-技術,智能數字化的涂層測厚探頭
          模擬信號處理時代已成過去,數字信號處理將成為未來的趨勢

          標準配置:                                                         推薦配件:
          帶塑料手提箱,內含:                                          -   F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
          -MINITEST 720(內置探頭)
          --或MINITEST 730(外置探頭)
          --或MINITEST740主機(不含探頭,有各種探頭可選)
          -校準套裝含校準片和零板
          -操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
          -2節AA電池
           

          技術數據表
          SIDSP探頭

           


          探頭
          特性

          F1.5,N0.7,FN1.5

          F2

          F5,N2.5,FN5

          F15

          F

          N

          F

          F

          N

          F

          測量范圍

          0-1.5mm

          0-0.7mm

          0-2mm

          0-5mm

          0-2.5mm

          0-15mm

          使用范圍

          小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用

          粗糙表面

          標準探頭,使用廣泛

          厚涂層

          測量原理

          磁感應

          電渦流

          磁感應

          磁感應

          電渦流

          磁感應

          信號處理

          探頭內部32位信號處理(SIDSP)

          精確度

          ±(1μm+0.75%讀值)

          ±(1.5μm+0.75%讀值)

          ±(5μm+0.75%讀值)

          重復性

          ±(0.5μm+0.5%讀值)

          ±(0.8μm+0.5%讀值)

          ±(2.5μm+0.5%讀值)

          低端分辨率

          0.05μm

          0.1μm

          1μm

          zui小曲率半徑(凸)

          1.0mm

          1.5mm

          5mm

          zui小曲率半徑(凹,外置探頭)

          7.5mm

          10mm

          25mm

          zui小曲率半徑(凹,內置探頭)

          30mm

          30mm

          30mm

          zui小測量面積

          Φ5mm

          Φ10mm

          Φ25mm

          zui小基體厚度

          0.3mm

          40μm

          0.5mm

          0.5mm

          40μm

          1mm

          連續模式下測量速度

          每秒20個讀數

          單值模式下zui大測量速度

          每分鐘70個讀數

          主機

           


          型號
          特性

          MINITEST 720

          MINITEST 730

          MINITEST 740

          探頭類型

          內置

          外置

          內置外置可換

          數據記憶組數

          10

          10

          100

          存儲數據量

          zui多10,000個

          zui多10,000個

          zui多100,000個

          統計值

          讀值個數,zui小值,zui大值,平均值,標準方差,變異系數,組統計值(標準設置/自由配置)

          校準程序符合標準和規范

          ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準

          校準模式

          出廠設置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調節補償值

          極限值監控

          聲、光報警提示超過極限

          測量單位

          um,mm,cm;mils,inch,thou

          操作溫度

          -10℃-60℃

          存放溫度

          -20℃-70℃

          數據接口

          IrDA 1.0(紅外接口)

          電源

          2節AA電池

          標準

          DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
          ASTM B244,B499,D7091,E376
          AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

          體積

          157mm x 75.5mm x 49mm

          重量

          約175g

          約210g

          約175g(內置)/230g(外置)

          留言框

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